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Semiconductor Low Temperature Test Box (Slot)
GWB series semiconductor low temperature test box (slot)
Detalji proizvoda
| Model | Dɛɛr (mm) | Temperature Range | Temperature Control Precision |
| GWB1-6 | 200×150×200 | Tɛmɛ ɣön ~-20℃ | ±1℃ |
| GWB1-8 | 200×200×200 | Tɛmɛ ɣön ~-20℃ | ±1℃ |
| GWB1-10 | 250×200×200 | Tɛmɛ ɣön ~-20℃ | ±1℃ |
| GWB1-12 | 250×200×240 | Tɛmɛ ɣön ~-20℃ | ±1℃ |
| GWB1-16 | 250×200×320 | Tɛmɛ ɣön ~-20℃ | ±1℃ |
| GWB1-21 | 350×300×200 | Tɛmɛ ɣön ~-20℃ | ±1℃ |
| GWB1-26 | 350×300×250 | Tɛmɛ ɣön ~-20℃ | ±1℃ |
| GWB2-6 | 200×150×200 | Ɣön tɛmɛ~-40℃ | ±1℃ |
| GWB2-8 | 200×200×200 | Ɣön tɛmɛ~-40℃ | ±1℃ |
| GWB2-10 | 250×200×200 | Ɣön tɛmɛ~-40℃ | ±1℃ |
| GWB2-12 | 250×200×240 | Ɣön tɛmɛ~-40℃ | ±1℃ |
| GWB2-16 | 250×200×320 | Ɣön tɛmɛ~-40℃ | ±1℃ |
| GWB2-21 | 350×300×200 | Ɣön tɛmɛ~-40℃ | ±1℃ |
| GWB2-26 | 350×300×250 | Ɣön tɛmɛ~-40℃ | ±1℃ |
| GWB3-6 | 200×150×200 | Ɣön tɛmɛ~-60℃ | ±1℃ |
| GWB3-8 | 200×200×200 | Ɣön tɛmɛ~-60℃ | ±1℃ |
| GWB3-10 | 250×200×200 | Tɛmɛɛr ɣön ~-55℃ | ±1℃ |
| GWB3-12 | 250×200×240 | Tɛmɛɛr ɣön ~-55℃ | ±1℃ |
| GWB1-6 Semiconductor Low Temperature Test Box | . | . | 15200.00 | 14800.00 |
| GWB1-8 Semiconductor Low Temperature Test Box | . | . | 16800.00 | 15800.00 |
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